仪器介绍
作者：质检中心
日期：2018-10-16
电学探针台Probe Station 型号：仪准PW-800功能：通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试。技术参数：﹡夹盘尺寸：200mm﹡探针XY电动移动行程：200mm﹡显
半导体参数分析仪 Semiconductor Parameter Analyzer
作者：质检中心
日期：2018-10-16
半导体参数分析仪Semiconductor Parameter Analyzer 型号：美国Tektronix Keithley 4200A-SCS功能：使用4200A-SCS加快半导体设备
作者：质检中心
日期：2018-10-16
工业显微镜Industrial Microscope 型号：日本尼康LV100ND技术参数：﹡观察方式：透射/反射/明场/暗场﹡相机：1600万像素高清彩色相机 Model: Ni
比表面微孔分析仪 Surface Area and Porosity Analyzer
作者：质检中心
日期：2018-10-16
比表面微孔分析仪Surface Area and Porosity Analyzer 型号：日本麦奇科拜尔MicrotracBEL BELSORP-max技术参数：﹡测量范围：比表面0.00
四探针电阻仪 ResMap Four Point Probe
作者：质检中心
日期：2018-10-16
四探针电阻仪ResMap Four Point Probe 型号：美国CDE ResMap 178技术参数：﹡测量尺寸：2~8寸晶圆﹡测量速度：大于49点/分钟﹡测量范围：1mΩ sq-1
作者：质检中心
日期：2018-10-15
接触角测量仪Optical Temsiometer型号：瑞典Biolin THETA功能：测量接触角、表界面张力和表面自由能。技术参数：﹡接触角测量范围：0-180°﹡控制：自动滴样单元，高速图像观测
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