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康斯坦丁·诺沃肖洛夫

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Nalin Rupasinghe

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半导体参数分析仪 Semiconductor Parameter Analyzer

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工业显微镜 Industrial Microscope

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比表面微孔分析仪 Surface Area and Porosity Analyzer

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四探针电阻仪 ResMap Four Point Probe

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接触角测量仪 Optical Temsiometer

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激光粒度分析仪 Particle Size Analyzer

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DSC-TGA同步热分析仪 Simultaneous Thermal Analysis

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紫外可见近红外分光光度计 UV-VIS-NIR Spetrometer

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傅立叶变换红外光谱仪 Fourier-Transform Infrared Spectrometer

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原子力显微镜 Atomic Force Microscope

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