仪器介绍
| 仪器名称 | 场发射环境扫描电子显微镜 |
| 规格型号 | 美国FEI Quattro S |
| 预约电话 | 010-83432667 |
| 存放地点 | 石墨烯质量检测中心 |
设备详情
场发射环境扫描电子显微镜
Field-Emission Environmental Scanning Electron Microscope
型号：美国FEI Quattro S
功能：用于材料表面、断面形貌观察，微区成分定性定量分析。
技术参数：
﹡分辨率：1.0nm（30KV, SE）
﹡附件：X射线能谱仪（EDS）、电子背散射衍射仪（EBSD）
﹡放大倍数：300万倍
Model: FEI Quattro S
Function: Used for observation of surface and section morphology of materials, qualitative and quantitative analysis of components in microregions.
Technical Parameters:
﹡Resolution: 1.0nm(30KV, SE)
﹡Accessories: Energy Dispersive Spectrometer, Electron Backscattered Diffraction
﹡Magnification: 3,000,000×
地址：北京市海淀区苏家坨镇翠湖南环路13号院中关村翠湖科技园2号楼
邮编：100095 电话：010-83432600